Keysight N7788C 光器件分析儀 回收
Keysight N7788C 結合了偏振計和偏振控制器，適用于靈活的實驗室使用，以及使用是德科技可調諧激光器的單掃描算法對光學元件和光纖進行快速光譜 DGD/PMD 和 PDL 測量。
單次掃描中的高精度。無需進行多次掃描并計算平均值
對元器件的光路徑長度沒有限制
1240 nm 至 1650 nm 工作波長范圍
1 MHz 大采樣率
0 ps 至 1000 ps DGD 測量范圍
0 ps 至 300 ps PMD 測量范圍
1.5° SOP 測量不確定度
±2% DOP 測量不確定度
N7788C 光器件分析儀可在一臺儀器中同時提供偏振控制和分析功能，因而能夠在實驗室中靈活使用。尤其是，N7788C 能夠與可調諧激光源結合使用，測量光元器件如何改變信號的 SOP。該測量以廣義標準瓊斯矩陣本征分析法（JME）為基礎，使用獨特的單次掃描偏振相關方法來確定參數偏振模色散（PMD）或差分群時延（DGD）以及偏振相關損耗（PDL）。
N7788C 與可調諧激光源和新的 N7700 軟件引擎結合使用，能夠對這些偏振相關損耗和色散進行光譜測量。
可提供的測量參數包括：
DGD/PMD
PDL
功率/損耗
TE/TM 損耗
瓊斯矩陣
米勒矩陣
二階 PMD（去偏振 + PCD）
內置用戶界面支持 N7788C 的通用偏振計和偏振控制功能。
