AQ6315A 出售 光譜分析儀 AQ6315B
YOKOGAWA AQ6315A/ YOKOGAWA AQ6315B光譜分析儀日本橫河
AQ6315A/AQ6315B光譜分析儀在廣大的應用領域內有著強大的功能，包括從光源評估到測量在光器件內的波長損耗特性。
在1550nm波段提供±0.05 nm的波長精度
有了 ±0.02 nm的波長線形度
使它對DWDM器件特別有用，比如高精度波長損耗特性評估。
單色儀選擇模式：單色儀模式可以被設為單通或雙通以適應你的測量應用需求。
在寬波段內有高靈敏度：覆蓋了從350nm到1750nm并且噪聲水準被抑制使得AQ6315A/B可以測量到-90dBm。
偏振依賴性被大幅度削減至±0.05dB，就可以精 測量光放大器增益和其它關鍵測量。
精度為±0.3dB。
波長分辨率達到0.05nm。
可測光纖纖芯直徑達到800 μm：大范圍的可測光纖直徑意味著多種不同的應用范圍。
高功率測量： 大+20dBm (100mW)， 即使來自光放大器的高功率輸出也可被直接測量而不用光衰減器。
提供光輸出(僅AQ-6315B)：可作光帶通濾波器。9.4英寸LCD彩顯。可測脈沖光。
Yokogawa AQ6315B產品特性
1.有效保證雜散光抑制率能，行業領先
Yokogawa AQ6315B是行業內雜散光抑制率確保達到76 dB的儀表。即使不使用高動態模式，而使用普通模式時，該儀表仍可獲得如此高的雜散光抑制率，從而減少了測量時間。
2.測量精度增高
AQ6315B使用高性能單色儀，可以實現0.02nm波長分辨率和73 dB動態范圍對光信號進行分析。AQ6370C可以移除被測光附近的光噪聲，達到提高光譜測量精度的目的。
3.高速光譜測量
100nm的波長范圍通過0.2s的高速測量對于DWDM*2系統等具有多峰值光譜或者微弱信號的測量非常有效。
主要目標市場
通信運營商和光通信設備/器件制造商的研發與生產測量部門
橫河 Yokogawa 計量儀表公司推出 AQ6315B光譜分析儀，光學性能和信號處理能力更強。這款新型儀表主要對研發與制造等應用中的光通信設備和器件的光學特性進行測量。
