半導體曲線圖示儀CS-3100
適用于IGBT、MOSFET、三極管、二極管等各種半導體特性測試的標準型號
適用于IGBT、MOSFET、三極管、二極管等各種半導體特性測試的標準型號
峰值電壓3,000V（高壓模式）
峰值電流1,000A（HC脈沖模式）
LEAKAGE模式（游標分辨率 1pA）
簡單易用，追求人性化的先進功能
Graphical configuration screen
采用電路圖模式顯示內部的配線狀態
可通過確認實際波形，適時調整脈寬和測試點。
Vbe and Ic waveforms in the large current pulse mode (Wave mode)
具有能確認實際印加電流/電壓波形的Wave模式
可以像示波器一樣通過觀測模塊上實際印加的波形 （電流、電壓）來確定脈寬和實際測試點 （MEASUREMENT POINT）。
可通過確認實際波形，適時調整脈寬和測試點。
避免了示波器的探棒影響，可確認到實時的異常信號。
可非常容易地確認到模塊發熱等引起的振蕩等熱異常情況。
S-3000系列規格
集電極電源 HV模式
機型 CS-3000系列共通
模式/極性 全波整流/+－、DC/+－、LEAKAGE/+－、AC
峰值
電壓/電流
峰值電壓 峰值電流（峰值脈沖電流）
3kV 75mA（150mA）
300V 750mA（1.5A）
30V
7.5A（15A）
峰值功率 120mW / 1.2W / 120W/ 390W（峰值電壓3kV時不能使用）
水平軸量程 50mV～500V/div
集電極電源 HC模式 （CS-3100無HC模式）
測試臺：CS-301
模式 內容
波形補償 硬件 對集電極電源與接地間的浮動電容進行補償
軟件 通過軟件的細線化處理功能進行波形補償
階梯信號發生器 偏移 設定范圍
分辨 STEP AMPLITUDE設定的-10倍～+10倍
STEP AMPLITUDE設定的1%
電流模式 振幅量程
電流
電 1步進約50nA～200mA、21段 1-2-5切換
2A
10V以上
電壓模式 振幅量程
電流
電壓 １步進約50mV～2V、6段 1-2-5切換
±40V
500mA～ （～8V）、200mA～ （～15V）、10mA～ （～40V）
步進周期 50Hz或60Hz的2倍（AC模式下為1倍）、HC模式時為脈沖間隔
脈沖・步進 脈寬 50μs～400μs （10μs步進）
HC模式時為相對于集電極電源脈沖前后100μs的脈寬
步進數 0～20段
AUX出力 量程 OFF、－40V～+40V （100mV步進可調）
測試模式 REPEAT、STOP/SINGLE、SWEEP
垂直軸
（全量程0div） 集電極電流 量程 HV模式：1μA/div～2A/div、20步進 1-2-5切換 （HC模式另行規定））
精度 讀數的2%+0.05×VERT/div
加上以下峰值電壓的波形補償誤差
0.5μA （30V）、1μA （300V）、6μA （3kV）、12μA （5kV）
30V,300V,3kV峰值電壓的10%以上、5kV為30%以上
發射極電流
（LEAKAGE） 量程 1nA/div～2mA/div、20步進 1-2-5切換
（集電極電源模式為LEAKAGE）
精度 讀數的2%+0.05×VERT/div+1nA以下
水平軸 （全量程10div） 集電極電壓 量程 HC模式：50mV/div～5V/div、7步進 1-2-5切換（HV模式另行規定）
精度 讀數的2%+0.05×HORIZ/div以下
柵漏電壓 量程 50mV/div～5V/div、7步進 1-2-5切換
精度 讀數的2%+0.05×HORIZ/div以下
顯示 顯示器 8.4英寸 TFT液晶顯示器
數據數 1,000點/曲線（AC、全波整流）
20～1,000點/曲線 （SWEEP模式）
曲線顯示 連線、點線
平均數 OFF、2～255次
長度 OFF、SHORT、LONG、無限長
內部波形保存（REF） ４畫面
游標測試 DOT Vert、Horiz、β或gm
fLINE Vert、Horiz、1/grad, intercept
FREE Vert、Horiz、β或gm
WINDOW WINDOW區域的Vert、Horiz、β 或gm
數據保存/讀取 內部存儲 設置參數：256個、REF：4畫面
外部存儲 USB1.1：設置參數、波形、畫面復制（BMP、TIFF、PNG）
遠程控制 由LAN連接遠程控制 10BASE-T/100BASE-TX 1端口
電源 CS-3xxx AC100-240V 50/60Hz 、工作時功率：500VA、待機時：7W Max
外形尺寸(mm)
（不含突出部、附屬品）
質量 （不含附屬品） CS-3100 424W x 220H x 555D、約28kg
