固態(tài)技術(shù)協(xié)會 JEDEC 于 3 月 6 日正式發(fā)布 JESD239 GDDR7 顯存標(biāo)準(zhǔn)，JESD239 GDDR7 提供的帶寬是 GDDR6 的兩倍，每臺設(shè)備可達(dá) 192 GB/s。
JESD239 GDDR7 是第一個使用脈幅調(diào)制（Pulse Amplitude Modulation，PAM）接口進(jìn)行高頻操作的 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn) DRAM。其 PAM3 接口提高了高頻操作的信噪比（SNR），同時提高了能源效率。通過使用 3 個級別（+1，0，-1）在 2 個循環(huán)上傳輸 3 個比特，而傳統(tǒng)的 NRZ（不歸零）接口在 2 個周期上傳輸 2 個比特，PAM3 提供了更高的每循環(huán)數(shù)據(jù)傳輸速率，從而提高了性能。
Introspect Technology 宣布推出全球首個 GDDR7 顯存測試系統(tǒng)，支持大規(guī)模并行、72 通道、40 Gbps PAM3 ATE-on-Bench 測試，可為顯存和 GPU 制造商提供最快的上市速度。
作為JEDEC組織成員，測量儀器廠商Introspect Technology宣布已經(jīng)交付了全球首臺M5512 GDDR7 顯存測試系統(tǒng)，是世界上第一個用于測試 JEDEC 全新 JESD239 圖形雙倍數(shù)據(jù)速率 （GDDR7） SGRAM 規(guī)范的商業(yè)解決方案供應(yīng)商。
M5512 GDDR7 顯存測試系統(tǒng)是一款臺式測試和測量儀器，它包含 72 個高性能引腳，每個引腳都能夠在 PAM3 模式下以 40 Gbps 的速度運行。每個引腳都包含用于執(zhí)行讀寫操作的雙向電路，并且每個引腳都包含一整套模擬表征功能。該系統(tǒng)還集成了設(shè)備供電，可以精確控制供電，以及高度靈活的Python環(huán)境，可用來測試GDDR7顯存控制器、PHY物理層。
該系統(tǒng)使圖形顯存工程師、GPU 設(shè)計工程師、顯存和 GPU 領(lǐng)域的產(chǎn)品工程師以及系統(tǒng)集成商能夠快速啟動新的 GDDR7 顯存設(shè)備、調(diào)試協(xié)議錯誤、表征信號完整性，并執(zhí)行詳細(xì)的顯存讀 / 寫功能壓力測試，而無需任何其他工具。
總的來說，這套系統(tǒng)可以全方位測試、驗證GDDR7顯存的各方面的表現(xiàn)。
AMD、美光、英偉達(dá)、三星、SK 海力士都對 GDDR7 標(biāo)準(zhǔn)表示了支持。三星在英偉達(dá) GTC 2024 大會上展示 GDDR7 顯存之后，型號為 K4VAF325ZC-SC32 與 K4VAF325ZC-SC28 的兩款顯存顆粒現(xiàn)已上線三星半導(dǎo)體，分別達(dá) 28Gbps / 32Gbps 速率，單顆容量 16Gb. SK 海力士則表示正在研發(fā)速度更快的顯存模組，目標(biāo)定在了更高的 40Gbps。
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