一、概述
DBC-223型半導體器件靜態特性綜試驗臺的測試方法符合1. 該測試系統是一套靜態綜合的測試系統，綜合測試參數多，技術水平較高。
3. 該系統是一套靜態參數的集成測試系統，因此該設備的結構設計較為復雜
5. 該系統采用計算機記錄測試，并可將測試轉化為6. 該測試系統是半導體器件檢驗測試中不可缺少的專用測試設備。
1) 門極觸發參數測試單元
3) 通態電壓參數測試
5) 計算機控制系統
1. 阻斷電壓（DRMV200—6000V，分辨率 分兩檔：10V，準確度±3%±10V；
10V，準確度±3%±10V；
(I\I)：
1-99mA
計算機設定測試時斷態/反向峰值電流的保護電流的數值。
50H5. 測試方式：手動測試方式；
